Valmet IQ为纸箱
纸箱生产商在能源、生产、质量和成本方面面临许多挑战。由于终端用户重视良好的可兑换性、可印刷性和强度性能,在优化的成本水平上,板材生产是在质量和成本之间进行平衡。
每吨的能源利用率很高,特别是在干燥,但也对机器的其他部分。为了达到平坦的水分剖面而过度干燥是很常见的。当生产许多等级时,时间和原料很容易在等级变化中丢失。由于烘干机的存在,重品级的生产往往受到限制。湿端化学技术在细粒滞留管理中的应用越来越具有挑战性。原材料构成了整个生产成本的很大一部分,而回收原料的变化使得生产稳定的质量和优化化学反应变得更加困难。需要节省原材料、化学品的使用和人力。
除了管理成本和生产,生产所需的质量对机器提出了很多要求。强度、体积、定向和表面性能是制造高质量板的关键。尺寸稳定性、湿度水平和剖面、卷筒下卷、质量差的剖面和边辊性能(如强度和卡尺)都是重要问题。Valmet IQ为所有这些挑战提供了解决方案。
- 在线分析工具的自适应和基于情况的扫描
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- 方向控制概念
- 将光纤定向测量与新的多变量控制相结合,形成了光纤定向预测交叉方向控制的基础。应用包括有卷曲或纸张尺寸稳定性问题的纸板或纸机,其中主要卷曲成分可以通过适当的干燥策略和定向其中一个表面层来控制。加上在线光纤定向测量,新的切片致动器控制提供了更好的尺寸稳定性,并通过比较顶部和底部轮廓,可以控制顶部和底部层之间的光纤定向角差。
- 专利和独特的直接涂层重量传感器CaCO3,粘土或乳胶基涂料
- 用于填料成分测量的Valmet IQ x射线灰分测量
- Valmet IQ表面测量用于表面光洁度测量和可印刷性预测
- 处理更高的水分和基础重量,Valmet IQ MW水分测量利用微波共振来测量水分含量。它为多层表提供了一个真实的平均值。
- 真正的多变量MD & CD控制、多层配合、多层涂覆
- 真正自动化的Board改年级
- Valmet IQ稀释剂而且IQ切片分析器为了更好的基础重量剖面和纸张质量和节省原材料
- 当IQ稀释剖面仪在调整基重时,通过多片纸箱,IQ切片剖面仪可用于上下层的纤维定向控制
- Valmet IQ涂层重量剖面仪用于改进和甚至CD涂层重量剖面
- Valmet IQ蒸汽分析器提供了改进的水分CD分析,并通过增加压机干燥度节省能源
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- Valmet IQ感应剖面仪用于改进卡尺,光泽度和光滑度CD剖面,以及改进的卷筒结构和硬度


