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Valmet IQ X射线灰度测量
Valmet IQ X射线测量(IQ X射线灰)单独测量碳酸钙,粘土和二氧化钛,以及作为上述填料组分的概要的总灰分。
该灰分成分分析为控制造纸配料中各成分提供了坚实的基础。数字信号处理,高速空气密度温度补偿和污垢积聚补偿确保优越的传感器精度,即使在炎热,潮湿和肮脏的造纸环境。IQ x射线灰是工厂预先校准的纸张含有不同的总灰分水平。
特征
由X射线管提供的X射线辐射通过纸张中的无机材料优先吸收。X射线管在通电时产生X射线辐射。用大型区域引脚探测器,电镜前置放大器和相关电子测量辐射强度。
测量原理是基于被测材料对低能x射线辐射的吸收。通过x射线管辐射光谱和灰分比吸收率可以计算出总灰分和不同灰分的含量。
测量空气密度变化的影响,并使用高速气隙温度测量测量和自动补偿。此外,源和检测器头内的内部温度测量用于诊断目的。
好处
- 更准确和稳定的板上测量精确控制灰分和相关的质量性能。
- 灰分含量和组合物可优化以提高质量,减少提供的生产成本。
- 更快的规格质量和减少的垃圾浪费。