Valmet IQ光学卡尺测量

特征

IQ光学卡尺结合了两种精确的测量技术。磁法原理用于测量激光到参考板的距离，非接触激光三角法光学原理用于测量到纸张表面的距离。纸张厚度的计算方法是将这些测量值互相减去。在本设计中，这两种原理的结合消除了在扫描传感器时所涉及的普通机械公差所带来的误差。

利用柯安达效应将纸网稳定到参考板上。这防止了passline的变化和空气动力学的影响，从干扰精度，即使是最高的机器速度。
自动标准化和校准程序定期将传感器的校准参数周期性调整为环境条件，并以这种方式保证长期准确性和可靠性。

好处

• 亚微米卡尺测量精度在最高的分辨率和扫描速度，导致更准确和稳定的板上测量和更精确的控制的MD和CD特性。
• 由于薄片杂质或高凝固力，没有夹紧效果导致孔，薄片断裂或标记。这导致生产线路运行和减少的废物。
• Passline处理结合简单且稳健的测量原理，导致在各种纸张等级上提高了型材精度。这些包括高压延和非常快的机器，其中传统的接触卡钳测量一直在具有挑战性。
• 甚至卡尺改善了卷筒结构和绕线机和压榨室的可操作性。