Valmet IQ x射线灰分测量

这种灰分成分分析为控制造纸原料中的各组分提供了坚实的基础。数字信号处理，高速空气密度温度补偿和污垢积聚补偿确保优越的传感器精度，即使在炎热，潮湿和肮脏的造纸环境。IQ X-Ray灰分是工厂预先校准的纸张包含不同数量的总灰分水平。

特性

x射线管提供的x射线会被纸上的无机材料优先吸收。x射线管通电时产生x射线辐射。辐射强度测量采用大面积PIN探测器，静电计前置放大器和相关电子器件。

测量原理是基于低能量x射线辐射在被测材料中的吸收。通过x射线管辐射能谱和灰分组分比吸收比可以计算出总灰分和不同灰分组分的用量。

空气密度变化的影响是测量和自动补偿使用高速气隙温度测量。此外，在源和探测器头内部的温度测量用于诊断目的。

好处

• 更精确和稳定的板上测量精确控制灰分和相关的质量特性。
• 可以优化灰分含量和组成，以提高质量和降低配料成本。
• 更快的标准质量和减少启动浪费。