瓦尔梅特智商孔隙率测量

Valmet IQ孔隙度测量(IQ孔隙度)准确的机器方向趋势和高分辨率孔隙度剖面为生产均匀孔隙度的纸和纸板提供了坚实的基础。

瓦尔梅特智商孔隙率测量

改善的孔隙率不仅可以积极影响片材强度和涂层拾取,还影响片材表面性质。透气性也是麻袋,过滤器,香烟和其他特殊论文的关键变量之一。IQ孔隙度给出了通过精炼,湿端,压力机操作引起的孔隙率变化的瞬间反应,并且由于可以达到更快的规格质量,并降低了启动废物。

特性

IQ孔隙度是单面扫描或固定点测量。在线测量方法与Valmet纸张实验室和其他实验室测量的相关性是优异的。

先进的第三代孔隙度测量技术是基于气压测量的。由于新方法,不需要脆弱的空气流量测量或测量真空控制。新的测量技术提供了优异的孔隙度测量性能,甚至在以前不可能使用在线孔隙度仪的位置和应用。

IQ孔隙度安装在扫描仪中或在固定点平台中作为任何其他Valmet IQ传感器。该传感器配备有纸张稳定板,使用芯片效果,可轻轻地接触纸张。这确保了空气在纸张和传感器头之间没有泄漏,但所有测量的空气都通过纸张来。传感器头垂直位置可以通过步进电机调节,使得片浮动不会影响测量读数。IQ孔隙度也配有空气喷射功能,可从管道和传感器表面中去除累积灰尘。清洁可以在穿过或在纸张位置进行。

好处

  • 精确和高分辨率的孔隙型材,用于精确控制机器和交叉方向的孔隙率
  • 测量给出了由过程操作调整引起的孔隙率变化的即时响应。结果,可以更快地达到规格的纸质质量,并且启动浪费减少了
  • 通过对孔隙率的精确控制,可以将能源和配料成本降至最低
  • 减少拒绝孔隙度变化,卷质量和相关问题
  • 提高孔隙率对纸张的印刷性能和表面性能也有积极的影响
结构特性测量
VALMET IQ形成测量

VALMET IQ形成测量

IQ地层测量可以即时响应因工艺调整引起的地层变化。