Valmet IQ光学卡尺测量

特性

IQ光学卡尺结合了两种精确的测量技术。用磁原理测量激光到基准板的距离，用非接触激光三角测量光学原理测量到纸张表面的距离。纸的厚度是通过相互减去这些单独的测量值来达到的。在此设计中，这两种原理的结合消除了在扫描传感器时所涉及的正常机械公差所带来的误差。

利用科安达效应将纸网固定在参考板上。这防止了passline的变化和空气动力学的影响，从干扰精度，即使是最高的机器速度。
自动标准化和校准程序定期调整传感器的校准参数以适应环境条件，从而保证长期的准确性和可靠性。

好处

• 亚微米卡尺在最高分辨率和扫描速度下的测量精度导致更准确和稳定的片上测量和更精确的控制MD和CD性能。
• 不会因板材杂质或高夹紧力而产生夹紧效应，造成孔、板断或划线。这将提高生产线的可运行性，减少浪费。
• 传线处理结合简单而可靠的测量原理，可提高广泛的纸张等级的剖面精度。这些包括高度压延和非常快的机器，传统的接触卡尺测量具有挑战性。
• 甚至卡钳改善了卷筒的建立和绕线机和印刷室的可操作性。