VALMET IQ基重测量
通过Valmet IQ基础重量测量（IQ基重）测量的精确扫描平均值和高分辨率CD型材为Valmet的机器方向和横向基重（克拉姆）控制提供了坚实的基础。
数字信号处理，内部7点校准验证和敏感的高速空气密度温度补偿，即使在热，潮湿和不洁净的造纸环境中也能确保卓越的测量精度。
特征
由浓缩的Kr85核源提供的贝塔辐射被纸张或纸板中的物质吸收。随着质量的增加，被离子室型探测器捕获的透射辐射减少。IQ Basis Weight使用这一基本原理并通过使用特殊的传感器设计技术和测量诊断来改进它，以提供精确的MD和CD控制所需的稳定、高分辨率测量。
通过使用7个内部校准验证标准，为所需测量范围的定制自动为特定等级自动优化IQ基重的数字测量分辨率。尽管核吸收物理学的非线性性质，测量的分辨率始终最大。内部标准还可以在预定标准化序列期间补偿传感器窗口上的任何污垢构建和源衰减。
尽管片材填充物含量或涂层重量变化，但智能智力基重的校准与等级到等级一致。除了对所有传感器共同的头部内部温度稳定之外，源头气隙的温度稳定，主动调节检测器头气隙。使用高速传感器测量所有内部和外部空气间隙的温度。空气密度变化的影响结合到温度补偿算法中。
好处
- 更准确和稳定的旧式测量，即使是最恶劣的环境下的MD和CD属性的更精确控制。
- 精确的条纹控制使用5毫米分辨率的轮廓，可在第一次扫描后。
- 更快的规格质量和减少的垃圾浪费。
- 无关的灰分测量，用于不同的组合物。
- 产生具有卓越信号的读数，因此较好的测量分辨率。